Jamstvo kvalitete
Dio test RF-IF-Rfid Uključi
- HD vizualni pregled
Ispitivanje izgleda visoke definicije, uključujući svileni zaslon, kodiranje, loptice za otkrivanje lemljenja visoke razlučivosti, koje mogu otkriti jesu li oksidirani i originalni dijelovi.
- Završno ispitivanje funkcije
Tijekom funkcionalnog ispitivanja, funkcionalne usporedbe uspoređuju razinu napona izlaznih signala s DUT-a s referentnim razinama VOL i VOH. Izlaznom strobu dodjeljuje se vremenska vrijednost za svaki izlazni pin za kontrolu točne točke unutar ispitnog ciklusa za uzorkovanje izlaznog napona.
- Otvoreni / kratki test
Test otvaranja / kratkog spoja (koji se naziva i kontinuitet ili test kontakta) potvrđuje da je tijekom ispitivanja uređaja uspostavljen električni kontakt na svim signalnim pinovima na DUT-u i da nijedan signalni pin nije kratko spojen na drugi signalni pin ili napajanje / uzemljenje.
- Programiranje ispitivanja funkcija
Za ispitivanje funkcije čitanja, brisanja i programiranja, kao i prazne provjere čipova, uključujući digitalnu memoriju, mikrokontrolere, MCU i tako dalje
- RTG i ROHS test
X-RAY može potvrditi je li veza između oblatne i žice i matrice dobra ili nije; ROHS test provodi se zaštitom okoliša zaštitnog sloja proizvoda i olova u lemnom premazu pomoću fotonaponske opreme
- Analiza kemije
Kemijskom analizom provjereni proizvod je originalan
Ispitivanje laboratorijskih scena
